Atol sa paggama sa flat panel display (FPD), gihimo ang mga pagsulay aron masusi ang pagka-epektibo sa mga panel ug mga pagsulay aron masusi ang proseso sa paggama.
Pagsulay atol sa proseso sa array
Aron masulayan ang function sa panel sa proseso sa array, ang array test gihimo gamit ang array tester, array probe, ug probe unit. Kini nga pagsulay gidisenyo aron masulayan ang function sa mga TFT array circuit nga giporma para sa mga panel sa mga substrate nga bildo ug aron mamatikdan ang bisan unsang nabuak nga mga alambre o shorts.
Sa samang higayon, aron masulayan ang proseso sa proseso sa array aron masusi ang kalampusan sa proseso ug mahatag ang feedback sa miaging proseso, usa ka DC parameter tester, TEG probe ug probe unit ang gigamit para sa TEG test. (“TEG” nagpasabot sa Test Element Group, lakip ang mga TFT, capacitive elements, wire elements, ug uban pang elemento sa array circuit.)
Pagsulay sa Proseso sa Yunit/Modyul
Aron masulayan ang function sa panel sa cell process ug module process, gihimo ang mga lighting test.
Ang panel gi-activate ug gidan-agan aron ipakita ang usa ka test pattern aron masusi ang operasyon sa panel, mga depekto sa punto, mga depekto sa linya, chromaticity, chromatic aberration (non-uniformity), contrast, ug uban pa.
Adunay duha ka pamaagi sa inspeksyon: inspeksyon sa operator visual panel ug automated panel inspection gamit ang CCD camera nga awtomatikong mo-detect sa depekto ug pass/fail testing.
Ang mga cell tester, cell probe, ug probe unit gigamit para sa inspeksyon.
Ang module test naggamit usab og mura detection ug compensation system nga awtomatikong makamatikod sa mura o dili patas nga pagkakita sa display ug makatangtang sa mura gamit ang light-controlled compensation.
Oras sa pag-post: Enero 18, 2022